探针台及探头

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失效分析探针台

晶圆尺寸:≤ 450 mm 主要应用:失效分析

ESD 测试探针台

晶圆尺寸: ≤300mm 主要应用: TLP, VF-TLP, HBM ESD 及MM ESD晶园测试,包括管脚及平面电流、电压测试

6-12″半自动探针测试系统

晶圆尺寸:≤ 300 mm 主要应用:设备特性,MEMS,光电,光伏,HF /微波,失效分析,研究,材料科学等领域

全自动高真空探针台

晶圆尺寸:≤ 300 mm 主要应用:MEMS, Microbolometers,或其它真空包装产品

MEMS测试模块-Polytec

晶圆尺寸:200mm 主要应用:MEMS测试

SEMIPROBE M6大功率探针台

晶圆尺寸:150mm 主要应用:手动大功率测试

全自动4-12

晶圆尺寸:≤ 300mm 主要应用:4-12寸、DC-500GHz、高真空/MEMS/大功率/光电等测试方案

PS4L 晶园探针系统

晶圆尺寸:≤ 450 mm 主要应用:ESD, EMC 测试;MEMS, MOEMS 及NEMS 测试;及电流, 电压测试

实验室探针台 2-8″

晶圆尺寸:≤ 200 mm 主要应用:DC 及 HF/Microwave 测试,主要用于大学及研究所